Сканирующая электронная микроскопия

Техника сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) появилась в первой половине 20 века, как альтернатива традиционной микроскопии, ввиду того, что относительно большая длина волны видимого излучения (300-700 нм) не позволяет разглядеть детали наноструктуры образцов. В настоящее время техника сканирующей электронной микроскопии является одной из базовых и широко распространенных в таких областях, как материаловедение, биология, нанотехнологии, исследования полупроводников, исследование свойств поверхностных напылений, и во многих других областях.

ООО «Нева Технолоджи» является официальным дистрибьютором ведущей мировой компании KYKY TECHNOLOGY CO., LTD. (г. Пекин), представившей свой первый сканирующий электронный микроскоп в 1975 году. Аппаратура электронной микроскопии KYKY TECHNOLOGY позволяет визуализировать объекты с увеличением до 800 000 раз и обладает уникально низким разрешением 1 нм для перспективных моделей микроскопов серии 8100.
В настоящее время на базе сканирующих электронных микроскопов KYKY TECHNOLOGY поставляется целый ряд решений для высокоточного производства, включая комплекс микроскопии с микро – нано — манипулятором, системы создания и оперативного контроля напылений, электронной пучковой литографии и электронной пучковой сварки.