Инновационные решения в метрологии
и системах неразрушающего контроля
Санкт-Петербург: +7 (812) 784-15-34
Москва: +7 (495) 305-40-08
Казань: +7 (843) 202-07-11
XTOP 3D ⁄ XTDIC-Micro 3D микроскопическая система измерения деформации
XTDIC-Micro 3D микроскопическая система измерения деформации: Описание

Сфера применения

  •  Микроскопическая морфология и анализ деформаций (микроуровень, наноуровень);
  • Испытание материала (модуль Юнга, коэффициент Пуассона, пластичность материалов);
  • Расчет деформации, оценка прочности, измерение размера компонента, нелинейное изменение в деталях;
  •   Современные материалы (углепластик, дерево, полимерные материалы, металл, поролон, резина и т.д.);
  • Динамическое измерение деформации, такое как испытание на усталость
  • Кинетические измерения;
  • Оценка прочности;
  • Биомеханика (кости, мышцы, кровеносные сосуды и т.д.)
  • Анализ поведения однородных и неоднородных материалов при деформации;
  • Деформационные характеристики изотропных и анизотропных материалов;
  • Испытание компонентов (измерение смещения и деформации);
  • Механические свойства разрушения;
  • Контроль нелинейных процессов.

 

Технические характеристики продукции

Модель

XTDIC-MICRO-SD

XTDIC-MICRO-HR

Камера (2 шт)

2,3Mpx (1920*1200)

5 Mpx (2448*2048)

Частота кадров камеры

160 кадров в секунду

75 кадров в секунду

Минимальное разрешение

2-3мкм

1-2мкм

Точность измерения деформации

50мкм/м

Диапазон измерения деформации

0,01% ~ 500%

Диапазон измерения

1 ~ 10 мм

Тип калибровочной панели

с кодированными мишенями

Бинокулярный стереомикроскоп

Коэффициент масштабирования микроскопа: 1: 6
Диапазон масштабирования объектива: 0,8x ~ 5x 
Рабочее расстояние микроскопа: 78 мм
Регулировка фокусного расстояния: ход 105 мм

Система управления

Стандартный тип

XTDIC-Micro 3D микроскопическая система измерения деформации: Характеристики