Инновационные решения в метрологии
и системах неразрушающего контроля
Санкт-Петербург: +7 (812) 784-15-34
Москва: +7 (495) 305-40-08
Казань: +7 (843) 202-07-11
Система micro DIC Q-400: Описание
Система micro DIC Q-400: Характеристики
Наименование параметраПоказатели
Чувствительность измерений к перемещениюНе хуже 1 к 100 000 от поля зрения в зависимости от условий измерения, (т. е. до 10 мкм для поля зрения в 1 м)
Результат измерений2D или 3D деформация и перемещение
Область измерения17х17 мм² и ниже
Диапазон измеряемой относительной деформацииДо нескольких 100%
Типовая погрешность измерения перемещений для общих задачДо 0,01 пкс в зависимости от условий измерений
Погрешность измерения деформации До 0,01%
Поддерживаемые форматы данныхAVI, STL, ASCII
Стереоскопический микроскоп
Кратность увеличения:
8x 100x (при объективе 1x и линзе 10х)
Апохроматическая оптика
Парфокальные объективы:0.63x, 1x, 1.6x, 2x
Разрешение:Опционально до 16 Мегапикселей,
стандартно - 5 Мегапикселей
Время выдержки47 мкс - 67 с
Частота кадрирования:До 60 Гц
Система micro DIC Q-400: Обратная связь

Если у вас остались вопросы по данному оборудованию, вы можете задать их напрямую специалистам нашей компании, заполнив форму обратной связи. Подробное заполнение полей формы позволит сократить время на решение вашей задачи.

Имя*
E-mail*
Телефон*
Компания
Город
Должность
Ваш вопрос*

* Поля обязательные для заполнения.

Copyright © 2017 ООО "Нева Технолоджи". Все права защищены.